Dettaglio del documento
Trova il documento in altre risorse
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Breitenstein, Otwin
eBook
Springer <editore>
2018
VAN08@Biblioteca del Dipartimento di Matematica e Fisica
Documento per sola consultazione interna
| Inventario |
eMF 3581 |
Collocazione
DLOAD e-book 3581
https://unina2.on-line.it/opac/resource/VAN00211395
