Dettaglio del documento
Trova il documento in altre risorse
Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
eBook
Springer <editore>
2018
VAN08@Biblioteca del Dipartimento di Matematica e Fisica
Documento per sola consultazione interna
Inventario |
eMF 3570 |
Collocazione
CONS e-book 3570
https://unina2.on-line.it/opac/resource/VAN00211285