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Biased Sampling, Over-identified Parameter Problems and Beyond
Qin, Jing
eBook
Springer <editore>
2017
VAN08@Biblioteca del Dipartimento di Matematica e Fisica
Documento per sola consultazione interna
Inventario |
eMF 581 |
Collocazione
DLOAD e-book 0581
https://unina2.on-line.it/opac/resource/VAN00123511